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首頁 > 材料檢測用多功能原子力顯微鏡(Material-AFM)-【www.advantage.com.tw 】-產品詳細資料
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產品詳細資料
  分類 >>  原子力顯微鏡(工業In-line用及研究用) >> 德國 JPK 生物型AFM 、高速掃描型AFM、奈米光學型AFM , 高階光鉗系統 >> 
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Material-AFM  材料檢測用多功能原子力顯微鏡(Material-AFM) 人氣指數 6825
型號:Material-AFM
中文名稱:材料檢測用多功能原子力顯微鏡(Material-AFM)
英文名稱:NanoScience AFM
廠牌:德國 JPK
供應商:富智科技股份有限公司
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商 品 說 明 資 料

型號: NanoScience AFM   材料檢測用多功能原子力顯微鏡(Material-AFM)

- 材料檢測用多功能原子力顯微鏡(Material-AFM)
- 具備各項材料物性量測功能如電性、磁性、電化學…等
- 超高定位精度與解析度的電容式三軸閉迴路掃描器
- 可進行高低溫環境控制,亦能於溶劑環境下進行量測

 

Type: NanoScience AFM

- Material for the detection of multi-functional atomic force microscope (Material-AFM)
- have all measurement functions of material properties such as electrical, magnetic, electrochemical, etc. ...
- High positioning accuracy and resolution of three-axis closed-loop capacitive scanner
- high and low temperature environment can be controlled, also in the solvent measured under the environment

 
商 品 其 它 備 註

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