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粒徑, Zeta 電位分析
生科暨材料表面科學分析
高分子物性分析及加工(流變儀、黏度儀、塑譜儀、押出機)
原子力顯微鏡(工業In-line用及研究用)
化學纖維儀器設備
O2, CO2 , H2O滲透率量測(高分子薄膜材料), 臭氧產生機及一般汎用儀器
主動式防震台: 德國 Accurion


產品詳細資料
  分類 >>  原子力顯微鏡(工業In-line用及研究用) >> 韓國Park: 多功能原子力顯微鏡, LED 、 LCD用大尺寸樣品機台, 半導體用全自動機台 >> 
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NX-WAFER  半導體用全自動機台 人氣指數 5381
型號:NX-WAFER
中文名稱:半導體用全自動機台
英文名稱:NX-WAFER
廠牌:韓國 Park System
供應商:富智科技股份有限公司

商 品 說 明 資 料

NX-Wafer 半導體用全自動機台

1.       適用於bare wafer , pattern wafer for 8” or 12”

2.       Surface roughness , trench depth, critical angle measurement , line width 等量測.  

       可擴充Long range profiler , Automatic Tips exchange , automatic Wafer Handler ,   Ionization system

 
商 品 其 它 備 註

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